"SATE" ile Elektronik Bileşenlerin Yüksek Hızlı Testi
General Precision, Inc.
Librascope Division
Glendale 1, Calif.
Bu şirket tarafından elektronik bileşenlerin yüksek hızlı testine yönelik yeni bir sistem tanıtılmıştır.
SATE (Semi-Automatic Test Equipment) olarak adlandırılan sistem, bileşen güvenilirliğini denetlemek için şu anda gerekli olan zahmetli elle testlerin yerini alacak şekilde tasarlanmıştır.
Sistem, bileşenleri on parametrenin birleşimleri açısından değerlendirecek ve her birini saatte 1.800 bileşenlik bir makine hızında kabul ya da reddedecektir.
İlk sistemlerden biri transistörlerin testinde kullanılmakta olup, eşdeğer elle testlerin yapılma maliyetine kıyasla %96 tasarruf sağlamaktadır.
Elektronik konsoldaki her bir modül, mekanik taşıma konsolundaki on test istasyonundan birini kontrol eder. Modüller, geçer/kalır kararları vermek için ikili tip mantık devreleri içerir.
Her modül, test koşullarını ayarlamak ve parametre sınırlarını belirlemek için kumandalarla donatılmıştır.
Bir operatör, mekanik taşıma konsolundaki döner bir tabloya bileşenleri yerleştirir. Tablo, bileşeni on test istasyonunun her birine taşır. Her istasyonda, bileşen farklı bir parametre açısından test edilir ve önceden belirlenmiş sınırları karşılamazsa otomatik olarak reddedilir.
SATE tasarımına dâhil edilen tak-çıkar modüler devreler, hem mevcut kullanım alanları için esneklik hem de elektronik bileşen endüstrisindeki teknik düzey değişikliklerine uyum olanağı sağlar.
SATE, test doğruluğunu güvence altına almak için çalışma sırasında sürekli olarak otomatik özdenetim gerçekleştirir.